2/12 出展者セミナープログラム
開始時間 会  場 講演内容 終了時間
10:30 第1会場 VDSM時代のLSI設計環境
アバンティ ジャパン(株)
Chi-Ping Hsu (CEO Staff Avant! Corporation)
2:15
第4会場 フォーマルベリフィケーションCheckOff・新しい検証方法のアプローチ
セイコーインスツルメンツ(株)
大塚藤男 (AE1G)
11:15
第5会場 0.25μmシステム・オン・チップ対応設計環境OpenCAD
NEC
野田茂生 (半導体ソリューション 技術本部 ASIC技術部 技術課長)
11:15
第8会場 フォーマル・ベリフィケーション・メソドロジー
エス・シー・ハイテク(株)
Scott Sandler(Product Marketing Chrysalis Symbolic Design, Inc.)
11:15
第9会場 論理合成NTソリューション
エグゼンプラー・ロジック・ジャパン
Michael Bohm(Chief Scientist)
11:15
第11会場 Power Compiler/EPICツールによる低消費電力ソリューション
日本シノプシス(株)
桜井 至 (技術本部 第二製品技術部 部長)
11:15
11:30 第4会場 Summit社の新しい検証ツール:カバレッジツールHDLScore、H/W・S/W co-verification V-CPU
セイコーインスツルメンツ(株)
小笠原広治 (AE1G課長)
12:15
第5会場 コア・テスト・インテグレーション-組込みコアのテスト再利用について-
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
金森将人 (システム営業技術2部 DFT技術課 課長)
12:15
第8会場 高速システム設計支援ツールVIEWlogic社製XTK, AC/Grade, QUIET
伊藤忠テクノサイエンス(株)
谷口耕三
12:15
第9会場 新しいPhysical Verification手法
エス・シー・ハイテク(株)
Richard L Lanham(International Sales Simplex Solutions Inc.)
12:15
第11会場 シノプシスの新しいフォーマル検証ツールFormalityのご紹介
日本シノプシス(株)
丹羽清司 (技術本部 新製品技術部製品第二課 課長)
12:15
13:00 第1会場 スタティックタイミング解析(STA)ツールMOTIVE
伊藤忠テクノサイエンス(株)
桂田陸平
13:45
第2会場 エクセレント・デザインのIP戦略 (Hard VCへのアプローチ)
エクセレント・デザイン(株)
吉田健人 (代表取締役専務)
13:45
第3会場 TEMPEST配線寄生効果抽出ソフト
(株)シルバコ・ジャパン
Dr.IVAN Pesic
13:45
第4会場 高速・低消費電力・テスト機能付きメモリIP
セイコーインスツルメンツ(株)
Adam Kablanian (社長/Virage Logic Corp.)
13:45
第5会場 ゼロバグ・デザインへ 向けて!
パシフィック・デザイン(株)
Steven D. White(President In Design Automation)
13:45
第7会場 ゲートフィールド社のリプログラマブル不揮発性ASIC "Pro ASIC"とその開発環境
日本電素工業(株)
渡辺宏昭 (技術部長 日本ゲートフィールド(株))
13:45
第8会場 次世代に向けたEDAソリューション
大倉商事(株)
清水博幸
13:45
第9会場 大規模システムLSI開発における静的検証
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
三橋明城男(システム営業技術1部 技術1課 課長)
13:45
第11会場 プロコトルロジック設計ツールのご紹介
日本シノプシス(株)
森重由紀子 (技術本部 新製品技術部製品一課 主任)
13:45
14:00 第1会場 Total Test Solution Sunrise
伊藤忠テクノサイエンス(株)
渡辺良雄
14:45
第2会場 Design Verification for System-on-a-chip
クイックターン ・デザイン・システムズ(株)
George Zafiropoulos (Director of Strategic Marketing Quickturn Design Systems, Inc.)
14:45
第3会場 CELEBLITY-PCで使う 配線寄生効果抽出ソフト
(株)シルバコ・ジャパン
Dr.IVAN Pesic
14:45
第4会場 ESDA・ビヘイビア合成、新しいシステム設計の手法:ビヘイビア合成RapidPath
セイコーインスツルメンツ(株)
David Springer (社長/DASYS Inc.)
14:45
第5会場 HDL設計でお困りの方へ
セイコーインスツルメンツ(株)
片岡弘行 (ソリューション推進課課長)
14:45
第6会場 高精度な寄生パラメータ抽出ツール
伯東(株)
Jerry Tallinger(VP OEA International Inc.)
14:45
第7会場 デザイン・アウトソースとシステムLSI
パシフィック・デザイン(株)
杉浦 義英 (デザインセンター事業担当 取締役)
14:45
第8会場 Mixed-signal Built-In Self Test Solutions
パシフィック・デザイン(株)
Pierre Wildman(Director, Strategic Account Marketing LogicVision,Inc.)
14:45
第9会場 ハイレベル合成ツール(コ・デザイン環境の提案とビヘイビア合成)
(株)IKテクノロジー
古渡俊明(システム技術部長)
14:45
第10会場 IPベースの設計とデザイン・サービス
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
Mehrdad Tabrizi (プロフェッショナルサービス部 部長)
14:45
第11会場 Test Compilerを用いたテスト設計手法
日本シノプシス(株)
桜井 至 (技術本部 第二製品技術部 部長)
14:45
15:00 第1会場 メンター・グラフィックスのIP戦略
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
末次逸夫 (ビジネス開発部 部長)
15:45
第3会場 SpiceCut: Memory Circuit Reduction for Fast and Accurate Simulation
セイコーインスツルメンツ(株)
You-Pang Wei, Ph. D.(社長/Legend Design Technology, Inc.)
15:45
第4会場 次世代大規模設計へのチャレンジ
(株)エッチ・ディー・ラボ
長谷川裕恭(代表取締役)
15:45
第5会場 IBM TestBenchによる5M gates テスト検証手法
インフォメーション・テクノロジー・ソリューション(株)
Mr. Randy Kerr(Senior Manager IBM Corporation)
15:45
第7会場 SAND IPの優位性と設計事例
パシフィック・デザイン(株)
John Perry(Vice President.,Sales / Sand Microelectronics,Inc.)
15:45
第8会場 Synplifyによる次世代デザイン
パシフィック・デザイン(株)
Andy Haines (Vice President of Marketing / Synplicity,Inc.)
15:45
第9会場 COSSAPを用いた通信システム設計手法
日本シノプシス(株)
中野淳二 (技術本部 第二製品技術部 製品一課)
15:45
第11会場 システムオンチップ実現のためのタイミングソリューション
日本シノプシス(株)
丹羽清司 (技術本部 新製品技術部製品二課 課長)
15:45
16:00 第1会場 パラメタライザブルIPの使用例-Reed-Solomon エラー・コレクション
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
難波正治 (大阪支店 技術2課 課長)
16:45
第4会場 次世代組み込みシステムの設計戦略
(株)エッチ・ディー・ラボ
川北浩孝 (設計コンサルタント)
16:45
第5会場 最高速のアーキテクチャ探究手法
メンター・グラフィックス・ジャパン(株)
渡辺智昭 (システム営業技術1部 技術1課 課長代理)
16:45
第8会場 Lucent Bell-Labs フォーマルベリフィケーションツール「Frmal Check」について
(株)ベスト・テクノロジー
生駒博史(課長代理)
16:45
第9会場 Design Reuse Style Guide
日本シノプシス(株)
森 俊隆 (技術本部 設計コンサルティング部 部長)
16:45
第11会場 次世代データバス設計ツールModule Compilerのご紹介
日本シノプシス(株)
斎藤幹央 (技術本部 新製品技術部製品一課 主任)
16:45

[an error occurred while processing this directive]


All Rights Reserved by Japan Electronics Show Association